ARTIFICIAL INTELLIGENCE APPLIED TO QUALITY DEFECTS CLASSIFICATION FOR TYRES

Autores/as

DOI:

https://doi.org/10.18624/etech.v17i1.1262

Resumen

The manufacture of radial tires is complex, and for this reason some defects inevitably end up appearing in the production process. Currently the commonly used defect detection is manual detection, among these techniques are ultrasound testing, thermal detection, X-ray detection, digital holography, among others. The X-ray or technical radiography allows the analysis of all the internal components of the tire, such as the bead structure and the different layers of rubber and cords, whether metallic or textile. The task of detecting defects using X-ray images is done manually, which causes loss of time and costs for the company. Furthermore, it is a subjective, inefficient, time-consuming and even biased process as it requires a high level of concentration and focus. The objective of this work is the digitization of the conventional process of analysis of quality failures in metallic radial tires using algorithms developed with Artificial Intelligence resources, capable of identifying and classifying defects present in X-Ray images. This work presents a brief introduction about what the tire is, as well as the development of the proposed algorithm, using classic image segmentation techniques with a Computer Vision library and two different convolutional neural network structures. Through the comparison, it was verified that the algorithm based on U-Net obtained more relevant results, however, the algorithm based on Mask R-CNN was also promising and could be useful in new works, with a larger database and different settings parameters.

Descargas

Los datos de descargas todavía no están disponibles.

Biografía del autor/a

Alex da Silva Alves, Fatec SBC "Adib Moisés Dib"

Engenheiro Mecânico pela Faculdade Anhanguera Educacional; Tecnólogo em Manufatura Avançada pela FATEC SBC - Adib Moisés Dib; Engenheiro de P&D na Empresa Multinacional Prometeon Tyre Group. Fluente nos idiomas Inglês & Italiano; 

Michael Sampaio dos Santos, FATEC São Bernardo do Campo - Adib Moisés Dib

Atualmente estou no último ciclo da graduação em Tecnologia Aplicada à Manufatura Avançada na Fatec São Bernardo do Campo "Adib Moisés Dib". Sou técnico em eletroeletrônica formado pelo SENAI "A Jacob Lafer" e atuo na área de Automação Industrial, principalmente no desenvolvimento de aplicações em CLP's, IHM e SCADA, além de comissionamento e startups.

Possuo conhecimento nas principais ferramentas do mercado, como TIA Portal (Siemens), Studio 5000 Logix Designer, RSLogix 5000, CCW Workbench, Factory Talk View (Rockwell), Elipse E3, EcoStruxure Machine Expert Basic, EcoStruxure Machine Expert, InduSoft , Vijeo Designer (Schneider), CODESYS, entre outros.

Dedico meu tempo livre para aprimorar meus conhecimentos em Cibersegurança, Inteligência Artificial, Cloud Computing e IIoT.

Gedeane Gomes da Silva Kenshima, FATEC São Bernardo do Campo - Adib Moisés Dib

Professora de ensino superior na Fatec Adib Moisés Dib (São Bernardo do Campo/SP) e na Escola Superior de Engenharia e Gestão (ESEG - Faculdade do Grupo Etapa). Doutoranda em Engenharia Elétrica e Computação pela Universidade Presbiteriana Mackenzie. Mestre em Automação e Controle de Processos, Engenheira de Controle e Automação, pelo IFSP Campus São Paulo, Técnica em Automação Industrial pelo IFSP Campus Guarulhos. Autora dos livros Nas linhas do Arduino (2020), Arduino Fashion Geek (2020) e Nas linhas do Arduino PLUS (2021) todos pela Novatec Editora. Maker e Hobbista na plataforma Arduino e embarcados, realiza palestras e oficinas na área de Arduino, Wearables (circuitos vestíveis), tendo protótipos voltados para a área de entretenimento; e incentivo de mulheres na área de tecnologia. Já redigiu artigos voltados a Arduino, Internet da Coisas, Wearables e Movimento Maker no Portal Embarcados, Blog FilipeFlop e Instituto Newton C. Braga.

Publicado

2024-04-22

Cómo citar

da Silva Alves, A., Sampaio dos Santos, M., & Gomes da Silva Kenshima, G. (2024). ARTIFICIAL INTELLIGENCE APPLIED TO QUALITY DEFECTS CLASSIFICATION FOR TYRES. Revista E-TECH: Tecnologias Para Competitividade Industrial - ISSN - 1983-1838, 17(1). https://doi.org/10.18624/etech.v17i1.1262